主要规格及技术指标

电压±30V，电流1pA~1A，测试频率0.001Hz～5kHz，疲劳频率最高300kHz；
薄膜测试能力：-196℃到600℃、电压±30V、电流1pA~1A、频率0.001Hz~5kHz以内的铁电、热释电性能；
块体测试能力：RT-600℃，电压±10kV、电流1pA~10mA、频率0.001Hz~5kHz以内的铁电、压电、热释电性能；
铁电测试能力：静态电滞回线、初始电滞回线、电滞IV曲线、损耗曲线，变温自动测试功能；
压电测试能力：蝴蝶曲线、小信号d33-V曲线、压电特征值随温度的自动变化的曲线（变 温压电）。

主要功能及特色

精密测量介电常数随频率和温度的变化，能够测试块体、薄膜材料在高电场下的电滞回线。

主要附件及配置

FE标准模块、高压放大器、薄膜探针冷热台、压电块体材料样品盒、块体和多层陶瓷驱动器样品测试盒、激光干涉仪等。