加速电压:30 kV;放大倍率:不小于1 M;二次电子分辨率:≤ 1.0nm@15kV,≤ 1.6nm@1kV
适用于各种样品(金属、陶瓷、半导体、矿物、生物、高分子和复合材料等)的微观形貌观察、微结构测定和微区成分分析,对于不导电样品,特别是氧化物纳米材料和半导体样品,可直接在超低电压下进行高分辨率观察。
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