仪器列表
1)最大加速电压:200 kV;
TEM点分辨率:0.23 nm;
STEM 分辨率:0.16 nm;
TEM放大倍率:20-2,000,000×;
样品台最大倾角:双倾样品杆: ±35°(X)/30°(Y)
融合了卓越的高分辨率STEM和TEM成像,利用智能扫描引擎、基于多个STEM探测器的四通道合并技术,以及微分相位衬度(DPC/iDPC)成像技术,可以快速、准确地分析材料的结构和成分信息。
精研一体机、离子减薄仪、冷冻超薄切片机、EDS
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
|---|